跌落测试的前世今生
在网络媒体上，可以看到不少有关电子产品的跌落评测的视频，如Samsung Galaxy, HTC ones等手机产品，平板，移动电源等，以及前段时间网上炒的风风火火的“罗王辩战”。为何通过跌落来评估产品，这不仅仅是由于测试本身的易实现性，也是由于电子产品的损害多是由于跌落、碰撞等高速撞击而产生。据统计，由于高速撞击而损坏的电子产品可能达到80%左右。因此合理地模拟跌落、碰撞等环境对电子产品进行测试，将能够协助开发人员提早发现产品结构问题，更好地进行产品设计。
对于电子产品而言，如果发生跌落、碰撞等情况，产品本身有可能处于裸机状态或在包装箱、 包裹中。为了合理对这些状态下的电子产品进行检测，IEC/ISTA等组织均编订了相关的检测标准。
当产品未经过包装时，IEC组织定义了以下几种测试环境以便模拟电子产品可能遭遇的高速撞击。
- 冲击试验：该试验是模拟元器件和设备在运输期间或使用中可能经受到的非多次重复性冲击的影响 （IEC60068-2-27，GB/T 2423.5）
- 碰撞试验：模拟元器件和设备在运输期间或安装在车辆中使用时可能经受的多次碰撞试验 （IEC60068-2-29，GB/T2423.8）
- 倾跌和翻到：模拟设备在维修/工作期间或在工作台上由于粗率操作时而遭受到敲击或撞击影响。
- 自由跌落：模拟产品在运输、搬运或维修中可能会从运输工具或工作台面上跌落下来。（IEC60068-2-32，GB/T2423.8）
- 重复自由跌落：模拟某些元器件产品，可能受到重复冲击的影响。（IEC60068-2-32，GB/T2423.8）
- 弹跳试验：该试验用来模拟作为散装货物装载在轮式车辆上，在不平整路面上运输时，可能遭受到随机冲击的影响。
国标GB/T2423.8-1995 附录B 导则中同时推荐自由跌落适用于验证机械强度等级。如何验证电子产品的强度，可以通过模拟不同的跌落高度、地面以及调整样品释放时的状态来进行确认。
GB/T2423.8中将自由跌落的不同严酷等级通过高度进行区分，具体高度包扩25、50、100、250、500、1000mm。而试验用地面推荐用混凝土或钢制成的平滑、坚硬刚性地面 （必要时，有关规范可以定义其他合适的地面）。
GB/T2423.8(IEC60068-2-32)作为跌落测试的基本环境试验规程，被其他特定产品检测规范或标准广泛引用，如 GB4943.1、YD/T1539、GB/T18287 以及中国移动入库规范等企业标准。上述标准在引用GB/T2423.8时，会根据条款7及所检测产品在正常运输及使用时的情况定义检测要求，这些要求包括（引自GB2423.8 条款7）：
- 试验表面 （默认混凝土及钢质，如不是，需指明）
- 跌落高度
- 初始检测
- 试验样品开始跌落时的姿态
- 根据跌落姿态所得到的跌落次数
- 最后检验
跌落测试中，我们常提到依据样品的棱、角、边固定样品姿态，然后分别进行跌落。该概念出自美国的ASTM D 5276标准。该标准主要是针对包装件、包裹等的自由跌落测试。 标准定义了如何分析三种形状包装的跌落方向：矩形包装、圆柱型及普通包裹件形状。这种区分产品跌落方向的方法又被用于分析非包装电子产品跌落测试。
在实际测试中，随着测试高度的提高，样品虽然在释放前固定了姿态，但由于样品本身结构，重心以及空气阻力等因素的影响，样品在与试验表面接触时，并不一定能保持释放前的姿态。这使得研发者们无法通过自由跌落测试分析样品各个面、棱、角被撞击后，样品外表与内部零部件的受力情况，不能很好地评估产品的机械强度，更无法准确评估受损后是否满足安全要求（如我国强制性产品认证中所采用的GB4943中第4.2.6章节对跌落测试的描述是选取对样品最不利的方位跌落三次，并按照4.2.1章节进行判定）。因此人们通过使用定向跌落机等设备，减少样品完全释放后进行自由落体运动的距离，以保证样品与接触面撞击时的位置，同时也可通过高速摄影机判断接触点是否达到预期，或着直接通过仿真软件进行模拟。但需要注意的是，上述的跌落试验，包括采用定向跌落机，都是属于自由跌落，即在重力作用下按照自由落体运动冲击到冲击台面上的试验。这些试验都可溯源到IEC60068-2-32，GB/T2423.8，并无矛盾之处。
希望通过这篇文章，能让广大读者了解这个并不很复杂的，却非常严谨的测试，我们特意取名“跌落测试的前世今生”希望能让您对跌落测试的来龙去脉有一个清晰的了解。后续巴伦技术（BALUN）会继续推出各种热点技术的介绍，敬请密切关注。如需更多的信息和寻求更深入的技术支持，可邮件至 info@baluntek.com 或致电0755-66850100联系巴伦技术（BALUN）进行咨询。